2013年度ADVANTEST技术研讨会
主要议题：
开幕致辞及公司业务简报
半导体产业趋势分析及对未来测试技术的影响 (VLSIresearch总裁报告)
SoC测试的标杆-V93000新产品、新技术简介
最佳同测性及最广应用范围-T2000新产品及其他简介
移动电源管理芯片测试的新途径
高效低成本的RF功率放大器测试
RF SoC测试领先技术-下一代通信芯片测试（LTE/LTE-A）
高速测试的标杆-高速串口（>10Gbps）的测试
固态硬盘(SSD)系统级测试方案
最新智能卡（eFlash）高效测试方案
通用晶圆测试方案
中国Device Interface业务介绍