展芯芯片分析实验室FIB/SEM（离子束/电子束）双束机台开始试运营！

        (http://www.szicc.net/function/test/ica/ica_fib.htm)

        机台型号为FEI DualBeam 820，是大陆地区第一台投入商业服务的Dual-Beam双束机台，最精准分辨率高达7nm，微线路修改最高制程可达0.13um，支持8英寸wafer，可同时提供FIB聚焦离子束切割修改与SEM电子束影像观察。

        机台主要应用范围：微线路修改（切断与连接），Cross-Section纵向解剖、Voltage Contrast 即VC电位对比测试（判断metal, poly, contact, via之open/ short ）。

        深圳IC基地所有入孵企业均可享受展芯FIB实验室特殊价格优惠。

         详情或请登录www.perfictlab.com 或致电0755-86169688。感谢您的关注！