<%@LANGUAGE="VBSCRIPT" CODEPAGE="936"%> 国家集成电路设计深圳产业化基地
 
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首页 > 测试与验证平台 > 主要设备
  设备名称
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美国Credence公司Electra MSR 100MHz集成电路验证系统
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日本 VTT公司V777大规模集成电路逻辑测试系统
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台湾讯利L5610测试系统
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台湾德律TR-6800 Power Management IC Tester
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安捷伦 93000 SOC 测试系统
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Mentor Graphics ASIC硬件仿真器Vstation-15M
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日本爱德万公司各类测试机台
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Agilent   16804A(逻辑分析仪)
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Agilent   81133A(信号源或脉冲发生器)
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Agilent   E4443A(频谱分析仪)
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Fluke   F189(万用表)
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分析探针台(EVERBEING BD-8)

Agilent   E4443A(频谱分析仪)

参数

要求

频率

 

Min. Frequency

3 Hz

Max. Frequency

6.7 GHz

Min Resolution BW

1 Hz

Digital Resolution BW's

1 Hz - 8 MHz

Residual FM

< 1 Hz

Phase Noise dBc/Hz [2]

-114

Span Accuracy

0.2%

幅值

 

Best DANL<3GHz(dBm)

-169

SHI (dBm) at 1 GHz

+52

TOI (dBm) at 1 GHz

+16

1 dB Gain Compression

+3 dBm

Calib Display Range

> 110 dB

Attenuator Step Size

2 dB

测试速度

 

Min Full Span Swp Tme

1 ms

Local Meas Rate

50/sec

噪声系数测试

±0.05 dB

 

 
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