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解开芯片设计关键密码-从失效模式探讨可靠性验证对策研讨会

 
面对日新月异的竞争市场,芯片设计企业除了要快速将产 品量产上市,同时更需关注芯片设计/制作的质量,过 往的「功能设计Design For Function」观念已无法满足消费者对于产品质量的要求,新的观念是在设计初期即导入该项产品生命周期的任务使命,也就是所谓的「可靠性设计 Design For Reliability」,降低未来量产时,产品失效导致的客诉退货机会。

此外,芯片在开发/量产/客退的失效分析与除错效率,也是分秒必争的关键。尤其在制程迈向28/20纳米先进制程的失效分析更是困难。如何针对各种不同的IC失效模式,选择最正确 有效的程序,来加速分析效率与节省分析成本? 如何正确解读分析结果,进一步判断修改方向? 这是许多芯片设计开发者经常面临的问题。


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iST 深圳宜特科技特别邀请台湾总部-iST宜特科技具 20年丰富经验的半导体专家,分别就芯片失效现象、 可靠性与失效分析的不同面向观点,切入探讨芯片问 题,将多年实务经验,化为一系列的教战准则与业界先 进进行分享。


时 间
内 容
8:30-09:00
报 到
09:00-10:30
如何从客退品之故障模式,评估芯片设计前期需关注 哪些可靠性验证?
* 常见芯片失 效模式与失效原因
* 失效模式对 应之可靠性验证方法

10:30-10:45
茶 歇
10:45-12:30
借鉴市场常见失效案例,如何拟出自家可靠性验证防 范对策?
* 失效模式管 理与防范对策

12:30-13:30
午 餐
13:30-14:45
如何正确选择失效分析工具,判断芯片缺陷的修改方 向?
* 芯片失效模 式分析流程

14:45-15:00
茶 歇
15:00-16:20
如何克服先进制程在失效分析上的限制与挑战?
*
失效分析工 具应用与案例分享


16:20-16:30
Q&A

    讲师简介

    曾劭钧

     

    现职:iST宜特科技台湾总部可靠度工程处副处长

     

    经历:硅品,凌越等技等IC可靠度试验规划与执行,IC可靠度教育训练讲师与技术咨询,在IC验证规划、寿命分析与可靠度工程验证技术有相当丰富经验

    庄凌艺

     

    现职:iST宜特科技台湾总部故障分析工程处资深经理

     

    经历:曾任职于友达光电、台积电、华亚科技,超过14年电子产业经验,工作期间曾获多项国内外专利,特别在产品工程、 良率提升及产品故障失效之分析有丰富经验。


    报名信息

     

    参加对象:

    芯片设计厂之研 发、质量保证、制程等相关工程人员

     

    课程地点:

    新桃园酒店(海岸店)-深圳南山区文心五路海岸城大厦东座 (查看地图)

     

    课程时间:

    2013年4月18号(星期四)

     

    洽询专线:

    iST深圳宜特科技业务窗口:

    +86-755-86153371 分机 4604 趙小姐

    iST宜特科技活动窗口:

    +86-512-5763-9600 分机 6501 江小姐
    Email: is@isti.com.cn


     

    报名方式:

    请上宜特网站进行在线报名,或请点此。即日起额满为止,欲报从速。
    (
    一间公司限三名,若同公司有三名欲参与,每个人皆需填写报 名表以利后续保留位置,报名是否成功确认以主办单位回复为主)

     

    参加费用:

    课程免费,请携带名片一张


    注意事项

     

    主办单位保留报名资格之最后审核权利,并于活动前一周以E-mail寄发「课前通 知」,以示您的参加资格。请于活动 开始前进行报到。

     

    未能准时报到或当天无法出席之学员,本论坛无法为您保留讲义与座位,亦无法提供讲义电子文件。

     

    若因不可预测之突发因素,主办单位保留变更论坛时间、议程内容及相关事项之权利。

     

    现场报名之学员,主办单位视现场状况保有开放进场与否之权利。


    主办单位:
      iST宜特科 技台湾总部
    iST深圳宜特科技有限公司

     

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