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2013年度ADVANTEST技术深圳研讨会

时间:2013年11月29日

地点:深圳威尼斯酒店罗马厅

地址:深圳市南山区深南大道9026号

 

主要议题:

 

开幕致辞及公司业务简报

半导体产业趋势分析及对未来测试技术的影响 (VLSIresearch总裁报告)

SoC测试的标杆-V93000新产品、新技术简介

最佳同测性及最广应用范围-T2000新产品及其他简介

 

移动电源管理芯片测试的新途径

高效低成本的RF功率放大器测试

RF SoC测试领先技术-下一代通信芯片测试(LTE/LTE-A)

高速测试的标杆-高速串口(>10Gbps)的测试

固态硬盘(SSD)系统级测试方案

最新智能卡(eFlash)高效测试方案

通用晶圆测试方案

中国Device Interface业务介绍

 

联系电话:021-6163-1628  ji.xiaobin@cn.advantest.com

 

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